Image SXM 200-1

Lizenz: kostenlos ‎Dateigröße: 11.53 MB
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Image SXM ist eine Version der Public-Domain-Bildanalyse-Software NIH Image, die erweitert wurde, um das Laden, Anzeigen und Analysieren von Rastermikroskopbildern zu handhaben. Image SXM unterstützt SAM-, SCM-, SEM-, SFM-, SLM-, SNOM-, SPM- und STM-Bilder aus folgenden Systemen: Asylforschung, Burleigh Instruments, Digital Instruments NanoScope II-III-IV, DME Rasterscope, DME Surface Data File, Gatan DigitalMicrograph, JEOL JSM, JEOL WinSem, JEOL WinSPM, JPK Instruments, Klocke Nanotechnik Atomikro, Leica LIF, Leica TCS, LEO SEM, Molecular Imaging PicoScan, NanoMagnetics Instruments SPMSIF, Nanonics Imaging, Nanonis, Nanosurf easyScan, Nanotec Electronica WSxM, Noran Instruments Vantage, NT-MDT, Omicron Vakuumphysik, Omicron SCALA, Oxford Instruments TOPSystem, Park Scientific Instruments HFS-LIF, Park Scientific Instruments HDF, Philips SEM, Quesant Instruments, RHK Technology SPM-3 2, RHK Technology XPM Pro, Seiko Instruments (SIINT) SPI, SPECS STM Aarhus, ThermoMicroscopes, TopoMetrix SPMLab, Unisoku, Vacuum Generators SAM, Veeco Innova, WA Technology, Zeiss AxioVision, Zeiss LSM.

VERSIONSVERLAUF

  • Version 190 veröffentlicht auf 2010-04-14

Programmdetails