Mikrolithographie-Datenanalysepaket, das Bossung-Typdatensätze, auch als Fokusbelichtungsmatrizen bezeichnet, anpassen kann. Schlagworte: Lithographie, Photolithographie, Photoresist, Prozessfenster, Kritische Dimension, CD, Bossung, FEM
VERSIONSVERLAUF
- Version N/A veröffentlicht auf 2011-08-11
Mehrere Korrekturen und Updates - Version N/A veröffentlicht auf 2011-08-11
Programmdetails
- Kategorie: Entwicklung > Andere
- Verlag: freedata.sf.net
- Lizenz: kostenlos
- Preis: N/A
- Version: Array
- Plattform: windows